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光電綜合實驗平臺

簡要描述:本款光電綜合實驗平臺針對光電器件應用開發而設計,由光學平臺、數字儀表及電子元器件平臺、線/面陣CCD相機的原理與應用及數據采集輸入輸出端口、計算機系統、線/面陣CCD相機數據采集軟件等部分構成,平臺配備各種電源接口及0-200V高壓可調電源和0-12V 低壓可調電源,可為學生搭建各種實驗電路提供電源。

  • 產品型號:MXY8002
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2022-06-15
  • 訪  問  量:569

詳細介紹

品牌自營品牌應用領域電子

MXY8002 光電技術應用開發綜合實驗平臺

一、產品介紹

MXY8002光電綜合實驗平臺針對光電器件應用開發而設計,由光學平臺、數字儀表及電子元器件平臺、線/面陣CCD相機的原理與應用及數據采集輸入輸出端口、計算機系統、線/面陣CCD相機數據采集軟件等部分構成,平臺配備各種電源接口及0-200V高壓可調電源和0-12V 低壓可調電源,可為學生搭建各種實驗電路提供電源。學生能夠利用平臺自行搭建各種光學系統、光電傳感器的變換及處理電路,完成各種關于光電技術方面的應用開發設計,從各方面提高學生的動腦動手能力及創新意識,幫助高校培養光電技術人才。

1、光學平臺

光學平臺為導磁材料,可利用磁性底座與光學配件及電子元器件搭建出幾何光學、物理光學、光電檢測與光電控制等系統,并與儀器內部的數據采集系統相結合完成各種實驗系統。

2、數字儀表、電子元器件平臺

平臺提供兩塊數字電壓表(四位半),兩塊數字電流表(四位半)和一塊自動更換量程的數字照度計,這些數字儀表可以應用在電路中進行各種電路參數的測量。此平臺還配備各種電阻、電容、可調電位器、二極管、三極管、集成運算放大器、光電耦合器件和現場可編程邏輯器件(CPLD)等。

3、線/面陣CCD相機的原理與應用及數據采集輸入輸出端口

平臺面板上安裝有線/面陣CCD相機的原理與應用及數據采集輸入/輸出端口,輸入端口與平臺內部的線陣CCD相機的數據采集卡與面陣CCD圖像傳感器的數據采集卡構成一整套數據采集系統,通過USB總線接入計算機,完成各種測量、振動、掃描及各種圖像采集與處理等功能軟件的開發與設計工作。輸出端口提供線/面陣相機的數字驅動信號及模擬輸出信號,學生可以通過示波器對這些信號進行觀察,從而了解線/面陣CCD的工作原理與應用,進而通過CPLD進行開發設計,提高學生動腦能力。

4、計算機功能軟件

平臺配備有各種功能軟件,包括線陣CCD尺寸測量、角度測量、位移測量、條碼識別、圖像掃描軟件,面陣CCD邊緣與輪廓檢測、物體的尺寸測量、圖像的點運算、圖像的幾何變換、圖像采集與參數設置、投影與差影圖像分析、圖像的濾波與增強、形態學處理、旋轉與縮放、顏色識別與變換等圖像處理軟件。不但提供DEMO演示軟件還提供SDK軟件開發包,供學生進行二次開發。

外形尺寸:680mm(長)×550mm(寬)×230mm(高)    重量:25kg


二、教學目的

1、了解并掌握各種光學配件及其實驗的原理和應用;

2、了解并掌握各種光電傳感器的工作原理、變換電路、處理電路;

3、了解并掌握線陣CCD的原理及其應用;

4、了解并掌握面陣CCD的原理及其應用;

5、了解CPLD的應用開發技術;

6、培養學生動腦動手能力及創新意識;


三、能夠完成下述實驗內容:

光電傳感器件原理與特性的實驗

1、光源發光光譜特性實驗;

2、光度輻射度參數測量的實驗;

3、光敏電阻特性參數及其測量;

4、光敏電阻伏安特性實驗;

5、光敏電阻的變換電路;

6、光敏電阻時間響應特性;

7、光電二極管光照靈敏度的測量;

8、光電二極管伏安特性的測量;

9、光電二極管時間響應特性的測量;

10、硅光電池在不同偏置狀態下的特性參數及其測量;

11、測量硅光電池在反向偏置下的時間響應;

12、光電三極管光照靈敏度的測量;

13、光電三極管伏安特性的測量;

14、光電三極管時間響應的測量;

15、光電三極管光譜特性的測量;

16、光電耦合器電流傳輸比的測量;

17、光電耦合器件伏安特性的測量;

18、光電耦合器件時間相應的測量;

19、熱釋電器件基本原理實驗;

20、熱釋電器件光譜響應的測試實驗;

21、PSD位移傳感器特性參數的測量;

22、雪崩光電二極管(APD)特性實驗;

23、PIN光電二極管特性實驗;

24、四象限光電傳感特性實驗;

25、光電倍增管陽極暗電流Id的測量;

26、光電倍增管的靈敏度Sa與電源電壓Ubb的關系;

27、光電倍增管的電流增益G的測量;

28、測量LED正向電壓;

29、測量LED反向電壓;

30、測量LED的正向工作電流;

31、測量LED的反向工作電流;

32、測量發光光源的半發光強度的角度;

33、測量發光光源中心軸與機械軸的偏差角;

34、測量LED的發光光譜;

35、測量LD半導體激光器的發光光譜;

光電檢測技術實驗

1、線陣CCD原理與驅動實驗;

2、線陣CCD尺寸測量實驗;

3、線陣CCD角度測量實驗;

4、利用線陣CCD識別條形碼;

5、利用線陣CCD測量物體位置和振動;

6、利用線陣CCD進行物體掃描;

7、光柵與莫爾條紋實驗;

8、利用夫瑯和費衍射進行的測量;

9、面陣CCD原理與驅動實驗;

10、利用面陣CCD測量物體外形尺寸;

11、利用面陣CCD提取物體的邊緣與輪廓;

12、利用面陣CCD進行圖像采集與參數設置;

13、利用面陣CCD進行投影與差影圖像分析;

14、利用面陣CCD進行圖像的濾波與增強;

15、利用面陣CCD進行形態學處理;

16、利用面陣CCD進行物體的旋轉與縮放;

17、利用面陣CCD對顏色識別;

18、利用面陣CCD進行圖像信息的點運算;

19、利用面陣CCD進行圖像的幾何變換;

20、利用面陣CCD進行數據采集實驗;

現代光學實驗

1、用遠心照明光源測量薄凸透鏡的焦距;

2、位移法測量薄凸透鏡的焦距;

3、組裝顯微鏡系統;

4、組裝透射式幻燈機;

5、雙縫干涉原理與現象;

6、夫瑯和費單縫衍射原理與現象;

7、夫瑯和費圓孔衍射原理與現象;

8、利用夫瑯和費衍射測量細絲直徑;

9、光的偏振實驗;

CPLD應用技術方面的實驗

1、編寫與設計時鐘邏輯電路實驗;

2、編寫與設計2160像元的線陣CCD驅動電路實驗;

3、編寫與設計線陣CCD二值化數據采集系統邏輯電路;

4、編寫與設計流水線上測量通過某一工位工件數量的系統;


四、 光電綜合實驗平臺配套文件資料

1、實驗指導書1本;

2、軟件:平臺軟、硬件使用手冊等內容;

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